|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2750 van 6539 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of defect formation and electronic transport in microcrystalline silicon deposited by hot-wire CVD |
| Auteur: |
Stöger, M Breymesser, A Schlosser, V Ramadori, M Plunger, V Peiró, D Voz, C Bertomeu, J Nelhiebel, M Schattschneider, P Andreu, J |
| Verschenen in: |
Physica. B, Condensed matter |
| Paginering: | Jaargang 273-274 (1999) nr. C pagina's 4 p. |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2750 van 6539 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |